Zobrazeno 1 - 10
of 30
pro vyhledávání: '"Langlais, Véronique"'
Autor:
Domínguez-Celorrio, Amelia, Edens, Leonard, Sanz, Sofía, Vilas-Varela, Manuel, Martinez-Castro, Jose, Peña, Diego, Langlais, Véronique, Frederiksen, Thomas, Pascual, José I., Serrate, David
Graphene nanostructures are a promising platform for engineering electronic states with tailored magnetic and quantum properties. Synthesis strategies on metallic substrates have made it possible to manufacture atomically precise nanographenes with c
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2406.03927
Autor:
de Santis, Maurizio, Langlais, Veronique, Martinelli, Lucio, Mocellin, Tom, Pairis, Sébastien, Torrelles, Xavier
Publikováno v:
Thin Solid Films, 2023, 780, pp.139965
Orientation, structure and morphology in the early growth stages of CuO films on strontium titanate were studied by synchrotron radiation X-ray diffraction. Nanostructured CuO films were obtained by ex situ heat treatment at 970 K in oxygen flow at a
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2311.04504
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
de Santis, Maurizio, Martinelli, Lucio, Renaud, Gilles, Bailly, Aude, Joly, Yves, Langlais, Véronique, Torrelles, Xavier, Heresanu, Vasile, Sitja, Georges
Publikováno v:
REXS (Resonant Elastic X-ray Scattering ) 2022
REXS (Resonant Elastic X-ray Scattering ) 2022, Jun 2022, Paris, France
REXS (Resonant Elastic X-ray Scattering ) 2022, Jun 2022, Paris, France
International audience; We show two examples of resonant x-ray scattering experiments performed in situ on the INS2 end-station of the BM32 beamline at ESRF. In the first one the inversion parameter of thin cobalt ferrite films grown on Ag(001) by ox
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::ae4c7ca5b2d20e80100a8a4727442f37
https://hal.science/hal-03760791
https://hal.science/hal-03760791
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
The improvement of electronic device efficiency is currently based on the miniaturization of existing electronic devices. The manufacturing costs of reducing the size of semiconductor based circuits below 10 nm is unfeasible for companies. To overcom
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1413::268a60f99b6c483b918066b90e77df65
http://zaguan.unizar.es/record/125882
http://zaguan.unizar.es/record/125882
Publikováno v:
In Surface Science 2007 601(14):2962-2966
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.