Zobrazeno 1 - 10
of 10
pro vyhledávání: '"Langelaar, MH"'
Autor:
Langelaar, MH, Boerma, DO, Moss, SC, Ila, D, Cammarata, RC, Chason, EH, Einstein, TL, Williams, ED
Publikováno v:
Thin Films – Structure and Morphology, 247-252
STARTPAGE=247;ENDPAGE=252;TITLE=Thin Films – Structure and Morphology
STARTPAGE=247;ENDPAGE=252;TITLE=Thin Films – Structure and Morphology
In this paper we present a low-energy ion scattering (LEIS) study of the site exchange of Fe adatoms with Ag atoms from the Ag(100) surface. The time-of-flight (TOF) spectra obtained at low temperatures have been interpreted with a newly developed LE
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
O'Connor, Christopher R., van Spronsen, Matthijs A., Egle, Tobias, Xu, Fang, Kersell, Heath R., Oliver-Meseguer, Judit, Karatok, Mustafa, Salmeron, Miquel, Madix, Robert J., Friend, Cynthia M.
Publikováno v:
Nature Communications; 4/15/2020, Vol. 11 Issue 1, p1-6, 6p
Autor:
Jonsson, Hannes
Publikováno v:
Annual Review of Physical Chemistry. 2000, Vol. 51 Issue 1, p623. 31p. 5 Black and White Photographs, 3 Diagrams, 1 Chart, 3 Graphs.
Autor:
Murphy, S., Ceballos, S.F., Mariotto, G., Berdunov, N., Jordan, K., Shvets, I.V., Mukovskii, Y.M.
Publikováno v:
Microscopy Research & Technique; Feb2005, Vol. 66 Issue 2/3, p85-92, 8p