Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Lallemand, Florent"'
Publikováno v:
E3S Web of Conferences, Vol 12, p 04003 (2016)
The morphology of a Nickel layer grown by an Electroless Nickel Immersion Gold (ENIG) technique used for microelectronics interconnections is determined by Atomic Force Microscopy (AFM) investigations. The root mean square (rms) roughness, determined
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/748a07ed76b343ea8de861116109a8f6
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Lefevre, Aude, Ferreira, Delphine, Veillerot, Marc, Barnes, Jean-Paul, Parat, Guy, Czernohorsky, Malte, Lallemand, Florent
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Nanotechnology & Microelectronics; Jan/Feb2017, Vol. 35 Issue 1, p1-8, 8p
Silicon interposers with integrated passive devices, an excellent alternativ to discrete components.
Autor:
Lallemand, Florent, Voiron, Frederic
Publikováno v:
2013 European Microelectronics Packaging Conference (EMPC); 2013, p1-6, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kahouli, Abdelkader, Lebedev, Oleg, Ben Elbahri, Marwa, Mercey, Bernard, Prellier, Wilfrid, Riedel, Stefan, Czernohorsky, Malte, Lallemand, Florent, Bunel, Catherine, Lüders, Ulrike
Publikováno v:
ACS Applied Materials & Interfaces; November 2015, Vol. 7 Issue: 46 p25679-25684, 6p
Autor:
Coq Germanicus R; Normandie Université, ENSICAEN, UNICAEN, CNRS, CRISMAT, 14000 Caen, France., De Wolf P; Bruker Nano Surfaces, 112 Robin Hill Road, CA 93117, Santa Barbara, USA., Lallemand F; Murata Integrated Passive Solutions, 2 Rue de la Girafe, 14000 Caen, France., Bunel C; Murata Integrated Passive Solutions, 2 Rue de la Girafe, 14000 Caen, France., Bardy S; NXP Semiconductors, Esplanade Anton Philips 2, 14905, Colombelles, France., Murray H; Normandie Université, ENSICAEN, UNICAEN, CNRS, CRISMAT, 14000 Caen, France., Lüders U; Normandie Université, ENSICAEN, UNICAEN, CNRS, CRISMAT, 14000 Caen, France.
Publikováno v:
Beilstein journal of nanotechnology [Beilstein J Nanotechnol] 2020 Nov 23; Vol. 11, pp. 1764-1775. Date of Electronic Publication: 2020 Nov 23 (Print Publication: 2020).