Zobrazeno 1 - 10 of 123 pro vyhledávání: '"Lafon, F."'
1
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
2
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
3
Akademický článek
Finite-element Maxwell's equations modeling of etched air/dielectric Bragg mirrors.
Autor: Berger, V., Pavel, I., Ducloux, E., Lafon, F.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 12/1/1997, Vol. 82 Issue 11, p5300, 5p, 6 Black and White Photographs, 1 Chart
Zobrazit plný text záznamu
4
Effet des joints sur l’efficacité de blindage magnétique basse fréquence
Autor: Amin Frikha, Mohamed BENSETTI, Duval, F., Lafon, F., Lionel Pichon
Publikováno v: Actes du 17ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité Electromagnétique
CEM 2014
CEM 2014, Jul 2014, Clermont-Ferrand, France. 6 p
HAL
International audience
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::3c4f77584366dc21bf224e1fb981a313
https://hal-supelec.archives-ouvertes.fr/hal-01086541
Zobrazit plný text záznamu
5
A Methodology to Predict the Magnetic Shielding Effectiveness of Enclosures at Low Frequency for Electric and Hybrid Vehicles
Autor: Amin Frikha, Mohamed BENSETTI, Duval, F., Lafon, F., Lionel Pichon
Publikováno v: Proceedings of the 16th Biennial IEEE Conference on Electromagnetic Field Computation
CEFC 2014
CEFC 2014, May 2014, Annecy, France. 1p
HAL
The 16th Biennial IEEE Conference on Electromagnetic field computation
The 16th Biennial IEEE Conference on Electromagnetic field computation, May 2014, Annecy, France
International audience
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::531455cc59351520c78963ca16ca5506
https://hal-supelec.archives-ouvertes.fr/hal-01086552
Zobrazit plný text záznamu
8
Design of a 20 GHz DPI method for SOIC8
Autor: Land, S.O., Perdriau, R., Ramdani, M., Gil Galí, Ignacio, Lafon, F.
Publikováno v: UPCommons. Portal del coneixement obert de la UPC
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Recercat. Dipósit de la Recerca de Catalunya
instname
The direct power injection (DPI) test defined in IEC 62132-4 measures the conducted immunity of integrated circuits (ICs) up to 1 GHz. As the frequency of functional and interference signals is increasing, we would like to characterise immunity for h
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::836b7c8360fcf92e9dc1cd046f1b9b92
http://hdl.handle.net/2117/17378
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje