Zobrazeno 1 - 2 of 2 pro vyhledávání: '"La Duca, A.J."'
1
Conference
A methodology for accurate assessment of soft-broken gate oxide leakage and the reliability of VLSI circuits.
Autor: Mason, P.W., La Duca, A.J., Holder, C.H., Alam, M.A., Hwang, D.K.
Publikováno v: Proceedings of the 2004 IEEE International Reliability Physics Symposium; 2004, p430-434, 5p
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Experimental Study on Critical Parameters Degradation of Nano PDSOI MOSFET under TDDB Stress.
Autor: Gao, Tianzhi, Yang, Jianye, Liu, Hongxia, Lu, Yong, Liu, Changjun
Publikováno v: Micromachines; Aug2023, Vol. 14 Issue 8, p1504, 11p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje