Zobrazeno 1 - 10
of 490
pro vyhledávání: '"LSI Test"'
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
T. Finch
Publikováno v:
1975 IEEE International Solid-State Circuits Conference. Digest of Technical Papers.
If you can't measure it, you don't know it. If you don't know it, economic catastrophy usually strikes. Testability must be planned at the LSI concept, designed in, and with an implemented economical concern to insure an LSI payoff. These vital issue
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::cd2f9af46c57faa87733aefa5863c5c7
https://doi.org/10.1109/isscc.1975.1155424
https://doi.org/10.1109/isscc.1975.1155424
Publikováno v:
Asian Test Symposium
BOST (built out self test), puts the high performance test unit on the performance-board and achieves high performance measurement. We focused on D/A and A/D converter testing and developed a BOST which is placed on the performance board and measures
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6bdf756cbf0664fc380641849075e08d
https://doi.org/10.1109/ats.2001.990330
https://doi.org/10.1109/ats.2001.990330