Výsledky vyhledávání - "LIM, V. S. W."

Akademický článek

DISSIPATION OF CHARGES IN SILICON NANOCRYSTALS EMBEDDED IN SiO2 DIELECTRIC FILMS:: AN ELECTROSTATIC FORCE MICROSCOPY STUDY.

Autor: NG, C. Y., LAU, H. W., CHEN, T. P., TAN, O. K., LIM, V. S. W.

Publikováno v: International Journal of Nanoscience; Aug2005, Vol. 4 Issue 4, p709-715, 7p, 3 Graphs

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Influence of silicon-nanocrystal distribution in SiO2 matrix on charge injection and charge decay.

Autor: Ng, C. Y., Chen, T. P., Tse, M. S., Lim, V. S. W., Fung, S., Tseng, Ampere A.

Publikováno v: Applied Physics Letters; 4/11/2005, Vol. 86 Issue 15, p152110, 3p, 4 Graphs

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Visualizing charge transport in silicon nanocrystals embedded in SiO2 films with electrostatic force microscopy.

Autor: Ng, C. Y., Chen, T. P., Lau, H. W., Liu, Y., Tse, M. S., Tan, O. K., Lim, V. S. W.

Publikováno v: Applied Physics Letters; 10/4/2004, Vol. 85 Issue 14, p2941-2943, 3p, 3 Diagrams, 1 Graph

Zobrazit plný text záznamu