Zobrazeno 1 - 10
of 262
pro vyhledávání: '"LIBERIS, J."'
Autor:
Ardaravičius, L., Liberis, J., Ramonas, M., Šermukšnis, E., Matulionis, A., Toporkov, M., Avrutin, V., Özgür, Ü., Morkoç, H.
Current-voltage dependence is measured in (Ga,Sb)-doped ZnO up to 150 kV/cm electric fields. A channel temperature is controlled by applying relatively short (few ns) voltage pulses to two-terminal samples. The dependence of electron drift velocity o
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1605.09117
Autor:
Jorudas, J., Seliuta, D., Minkevičius, L., Janonis, V., Subačius, L., Pashnev, D., Pralgauskaitė, S., Matukas, J., Ikamas, K., Lisauskas, A., Šermukšnis, E., Šimukovič, A., Liberis, J., Kovalevskij, V., Kašalynas, I.
Publikováno v:
Lithuanian Journal of Physics; 2023, Vol. 63 Issue 4, p191-201, 11p
Autor:
Ramonas, M., Liberis, J., Šimukovič, A., Šermukšnis, E., Matulionis, A., Avrutin, V., Özgür, Ü., Morkoç, H.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 8/7/2020, Vol. 128 Issue 5, p1-10, 10p, 11 Graphs
Autor:
Matulionis, A., Liberis, J., Šermukšnis, E., Ardaravičius, L., Šimukovič, A., Kayis, C., Zhu, C.Y., Ferreyra, R., Avrutin, V., Özgür, Ü., Morkoç, H.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September-October 2012 52(9-10):2149-2152
Autor:
Ardaravičius, L., Kiprijanovič, O., Ramonas, M., Šermukšnis, E., Liberis, J., Šimukovič, A., Matulionis, A., Ullah, Md. B., Ding, K., Avrutin, V., Özgür, Ü., Morkoç, H.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 11/14/2019, Vol. 126 Issue 18, pN.PAG-N.PAG, 6p, 1 Chart, 6 Graphs
Autor:
Šermukšnis, E., Liberis, J., Matulionis, A., Avrutin, V., Toporkov, M., Özgür, Ü., Morkoç, H.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 2018, Vol. 123 Issue 17, pN.PAG-N.PAG, 9p, 1 Chart, 8 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Šermukšnis, E., Liberis, J., Ramonas, M., Matulionis, A., Toporkov, M., Liu, H. Y., Avrutin, V., Özgür, Ü., Morkoç, H.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 2015, Vol. 117 Issue 6, p065704-1-065704-8, 8p, 1 Diagram, 2 Charts, 5 Graphs
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2000 40(11):1803-1814
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; Nov2011, Vol. 110 Issue 10, p104504, 6p, 8 Graphs