Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"LIAO Zhi-heng"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Acta Physica Sinica. 66:224703
Junction temperature is an important factor affecting the reliabilities of semiconductor devices. Usually, the method of measuring the junction temperature is not tested on-line. However, due to the fact that neither contact thermal resistance nor th
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::5a657f3b271aa3e39d1394236fe5772c
https://doi.org/10.7498/aps.66.224703
https://doi.org/10.7498/aps.66.224703
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Huan jing ke xue= Huanjing kexue [Huan Jing Ke Xue] 2014 Nov; Vol. 35 (11), pp. 4061-9.
Publikováno v:
Huan jing ke xue= Huanjing kexue [Huan Jing Ke Xue] 2014 Jun; Vol. 35 (6), pp. 2264-71.