Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"LABIR"'
Autor:
Ibe, Eishi, Shimbo, Kenichi, Toba, Tadanobu, Taniguchi, Hitoshi, Uezono, Takumi, Nishii, Koji, Taniguchi, Yoshio
Publikováno v:
宇宙航空研究開発機構特別資料 = JAXA Special Publication. :148-154
As semiconductor device scaling is on-going far below 100nm design rule, terrestrial neutron-induced soft-error typically in CMOS devices is predicted to be worsen furthermore. Moreover, novel failure modes that may be more serious than those in memo
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=jairo_______::c9155e3d780a4c6a0da09b1722a3c7f7
http://id.nii.ac.jp/1696/00004320/
http://id.nii.ac.jp/1696/00004320/
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.