Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"L.P. Bellefroid"'
Autor:
Jeroen Croon, E. Augendre, F.R.J. Huisman, R.M.D.A. Velghe, K.N. Sreerambhatla, Youri Victorovitch Ponomarev, L.P. Bellefroid, M.N. Webster, M. Da Rold, E. Seevinck, Ray Duffy, M.J.B. Bolt, R.F.M. Roes, A.T.A. Zegers-van Duijnhoven, R. Surdeanu, M. Vertregt, Hans Tuinhout, A.J. Moonen, Peter Stolk, N.K.J. van Winkelhoff, C.J.J. Dachs
Publikováno v:
International Electron Devices Meeting. Technical Digest (Cat. No.01CH37224).
This paper studies the suitability of CMOS device technology for mixed-signal applications. The currently proposed scaling scenario's for CMOS technologies lead to strong degradation of analog transistor performance. As a result the combined optimiza
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9f377a49c742ede27965176cd3b9e48c
https://doi.org/10.1109/iedm.2001.979469
https://doi.org/10.1109/iedm.2001.979469
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.