Zobrazeno 1 - 10
of 65
pro vyhledávání: '"L.M. Milner"'
Publikováno v:
Surface Roughness and Scattering.
As the level of microelectronics integration increases, device design geometries decrease. For example, current state of the art fabrication lines for high performance devices (e.g. microprocessors and DRAMs) use design geometries with critical dimen
Autor:
Liu, Xiaocen1 (AUTHOR) cindyliu@cnu.edu.cn, Geng, Shuliang1 (AUTHOR), Lei, Tong1 (AUTHOR) 2223102004@cnu.edu.cn, Cheng, Yan1 (AUTHOR), Yu, Hui1 (AUTHOR)
Publikováno v:
Behavioral Sciences (2076-328X). Feb2024, Vol. 14 Issue 2, p119. 16p.
Publikováno v:
International Journal of Environmental Research & Public Health; Nov2024, Vol. 21 Issue 11, p1525, 13p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Mikulić, Mirjana1,2 (AUTHOR), Ćavar, Ivan3 (AUTHOR), Jurišić, Darija3 (AUTHOR), Jelinčić, Ivana1,4,5 (AUTHOR), Degmečić, Dunja1,4,5 (AUTHOR) ddegmecic@mefos.hr
Publikováno v:
Challenges (20781547). Jun2023, Vol. 14 Issue 2, p24. 10p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.