Future Contributions

Autor: S. Ando, J. Angulo, D. Batchelor, E. Bayro Corrochano, C. Beeli, C. Bobisch, R. Möller, F. Bociort, E. Bosch, I. Lazic, K. Bredies, A. Broers, N. Chandra, R. Ghosh, A. Cornejo Rodriguez, F. Granados Agustin, K. Edee, C. Edgcombe, J. Elorza, R.G. Forbes, P.L. Gai, E.D. Boyes, M. Haschke, R. Herring, B. McMorran, M.S. Isaacson, K. Ishizuka, K. Jensen, D. Shiffler, J. Luginsland, M. Jourlin, U. Kaiser, T. Kirk, A.I. Kirkland, R. Clough, J. Mir, C.T. Koch, O.L. Krivanek, M. Kroupa, B. Lencová, H. Lichte, M. Matsuya, J.A. Monsoriu, L. Muray, S.A. Nepijko, V.G. Dyukov, G. Schönhense, M.A. O'Keefe, D. Paganin, T. Gureyev, K. Pavlov, N. Papamarkos, A. Kesidis, H. Qin, Q. Ramasse, R. Brydson, B. Rieger, A.J. Koster, P. Rocca, M. Donelli, J. Rodenburg, J. Rouse, H.-n. Liu, E. Munro, J. Sánchez, P. Santi, P. Sciau, R. Shimizu, T. Ikuta, Y. Takai, T. Soma, I.J. Taneja, T. Tanigaki, J. Valdés

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c8676ee7ac99b3a02d33a1d58bfa2aed
https://doi.org/10.1016/s1076-5670(16)30053-2

[Untitled]

Autor: C. Yoon, D.T. Attwood, Gabor A. Somorjai, Michael X. Yang, L. Muray, P.W. Jacobs, E. Anderson

Publikováno v: Catalysis Letters. 45:5-13

100 and 750 nm silver nanoclusters are fabricated on oxidized silicon and aluminum surfaces by electron beam lithography. Silver nanoclusters are characterized by atomic force microscopy, scanning electron microscopy, scanning Auger electron microsco

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::1ebbc78aef9c34c60eee17767d27debb
https://doi.org/10.1023/a:1019090823171

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.