Zobrazeno 1 - 10
of 155
pro vyhledávání: '"L. Méchin"'
Autor:
C. Adamo, L. Méchin, T. Heeg, M. Katz, S. Mercone, B. Guillet, S. Wu, J.-M. Routoure, J. Schubert, W. Zander, R. Misra, P. Schiffer, X. Q. Pan, D. G. Schlom
Publikováno v:
APL Materials, Vol 3, Iss 6, Pp 062504-062504-10 (2015)
We investigate the suitability of an epitaxial CaTiO3 buffer layer deposited onto (100) Si by reactive molecular-beam epitaxy (MBE) for the epitaxial integration of the colossal magnetoresistive material La0.7Sr0.3MnO3 with silicon. The magnetic and
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/1c3c5f6bcefc4b87a4cd0bc1103ab4fd
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 9/15/2004, Vol. 96 Issue 6, p3228-3233, 6p, 1 Black and White Photograph, 1 Chart, 4 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
AIP Conference Proceedings.
We report systematic measurements of low frequency noise performed at room temperature in La0.7Sr0.3MnO3 (LSMO) thin films (thickness = 150 nm) patterned with different lengths (50 μm to 300 μm) and widths (20 μm to 400 μm). Noise measurements we
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::830cd18ea90beb05e58e653e27d72b37
https://doi.org/10.1063/1.3140410
https://doi.org/10.1063/1.3140410