Zobrazeno 1 - 10
of 13
pro vyhledávání: '"L. Fasciani"'
Autor:
C. M. Albani, J. Borgo, J. Fabbri, P. Pensel, L. Fasciani, O. Elso, D. Papademetrio, D. Grasso, A. Paladini, M. F. Beer, N. E. Farias, N. Elissondo, G. Gambino, J. Zoppi, V. Sülsen, M. C. Elissondo
Publikováno v:
Parasitology. 149:519-528
Cystic echinococcosis is a zoonotic disease caused by the larval stage of the parasite Echinococcus granulosus sensu lato. The available anti-parasitic treatment is mostly limited to a continuous administration of albendazole. However, due to its num
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::88c2dbc786a4ea52dbd246d5baa43797
https://doi.org/10.1017/s0031182021002109
https://doi.org/10.1017/s0031182021002109
Autor:
C M, Albani, J, Borgo, J, Fabbri, P, Pensel, L, Fasciani, O, Elso, D, Papademetrio, D, Grasso, A, Paladini, M F, Beer, N E, Farias, N, Elissondo, G, Gambino, J, Zoppi, V, Sülsen, M C, Elissondo
Publikováno v:
Parasitology. 149(4)
Cystic echinococcosis is a zoonotic disease caused by the larval stage of the parasite Echinococcus granulosus sensu lato. The available anti-parasitic treatment is mostly limited to a continuous administration of albendazole. However, due to its num
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=pmid________::634a2b3bdea2a533765158a8b45e7574
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/35331352
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/35331352
Publikováno v:
Journal of Non-Crystalline Solids. 216:180-184
In this paper a new scanning capacitance microscope (SCaM) able to perform quantitative local in-situ monitoring of the silicon oxide properties is established. The test samples, used in this work, were p-doped silicon wafer with a 10 nm oxide layer
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a68a6676bcedd0fafb80e32651c43a07
https://doi.org/10.1016/s0022-3093(97)00211-1
https://doi.org/10.1016/s0022-3093(97)00211-1
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Burns. 37:S8-S9
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::2b05b7dfde2a8a26f890f6299cb42385
https://doi.org/10.1016/s0305-4179(11)70032-8
https://doi.org/10.1016/s0305-4179(11)70032-8
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
The current trend in the semiconductor industries is to move the reliability tests usually performed at he end of the process flow, towards in the in line monitors. This need opens a new strategic direction for the scanning probe microscopy, permitti
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c91b0cc42453be71a25b34084efbe327
https://doi.org/10.1117/12.324418
https://doi.org/10.1117/12.324418
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.