Výsledky vyhledávání - "Kwang Jung, Hyun"

Akademický článek

Origin of instability by positive bias stress in amorphous Si-In-Zn-O thin film transistor.

Autor: Hyung Kim, Do, Youn Yoo, Dong, Kwang Jung, Hyun, Hwan Kim, Dae, Yeol Lee, Sang

Publikováno v: Applied Physics Letters; 10/24/2011, Vol. 99 Issue 17, p172106, 3p, 1 Chart, 5 Graphs

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Effect of interface states on the instability under temperature stress in amorphous SiInZnO thin film transistor.

Autor: Hyung Kim, Do, Kwang Jung, Hyun, Hwan Kim, Dae, Yeol Lee, Sang

Publikováno v: Applied Physics Letters; 10/17/2011, Vol. 99 Issue 16, p162101, 3p, 1 Chart, 5 Graphs

Zobrazit plný text záznamu