Zobrazeno 1 - 10
of 69
pro vyhledávání: '"Kvit, A. V."'
Autor:
Feng, Jie, Kvit, Alexander V., Zhang, Chenyu, Hoffman, Jason, Bhattacharya, Anand, Morgan, Dane, Voyles, Paul M.
We report an approach for three-dimensional imaging of single vacancies using high precision quantitative high-angle annular dark-field Z-contrast scanning transmission electron microscopy (STEM). Vacancies are identified by both the reduction in sca
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1711.06308
Autor:
Deepthi, B., Barshilia, Harish C., Rajam, K.S., Konchady, Manohar S., Pai, Devdas M., Sankar, Jagannathan, Kvit, Alexander V.
Publikováno v:
In Surface & Coatings Technology 2010 205(2):565-574
Autor:
Kvit, A. V., Yankovich, A. B., Avrutin, V., Liu, H., Izyumskaya, N., Özgür, Ü., Morkoç, H., Voyles, P. M.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 12/15/2012, Vol. 112 Issue 12, p123527, 7p, 2 Color Photographs, 6 Black and White Photographs, 1 Graph
Autor:
Liu, H. Y., Avrutin, V., Izyumskaya, N., Özgür, Ü., Yankovich, A. B., Kvit, A. V., Voyles, P. M., Morkoç, H.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; May2012, Vol. 111 Issue 10, p103713, 9p
Autor:
Yankovich, A. B., Kvit, A. V., Li, X., Zhang, F., Avrutin, V., Liu, H. Y., Izyumskaya, N., Özgür, Ü., Morkoç, H., Voyles, P. M.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; Jan2012, Vol. 111 Issue 2, p023517, 6p, 4 Color Photographs, 1 Diagram
Autor:
Kvit, A. V., Klevkov, Yu. V., Medvedev, S. A., Bagaev, V. S., Perestoronin, A. V., Plotnikov, A. F.
Publikováno v:
Semiconductors. Jan2000, Vol. 34 Issue 1, p17. 4p.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 4/1/1996, Vol. 79 Issue 7, p3774, 4p, 1 Black and White Photograph, 3 Diagrams, 4 Graphs
Publikováno v:
Semiconductors. Feb98, Vol. 32 Issue 2, p213. 5p.
Publikováno v:
Journal of Materials Science. Aug2005, Vol. 40 Issue 16, p4369-4371. 3p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.