Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Probabilistic analysis of CMOS physical defects in VLSI circuits for test coverage improvement

Autor: Blyzniuk, M., Kazymyra, I., Kuzmicz, W., Pleskacz, W.A., Raik, J., Ubar, R.

Publikováno v: In Microelectronics Reliability 2001 41(12):2023-2040

Rapid and accurate leakage power estimation for nano-CMOS circuits

Autor: Bryk, M., Jozwiak, L., Kuzmicz, W., Kitsos, P.

Publikováno v: Proceedings of the 14th Euromicro Conference on Digital System Design (DSD'2011), August 31-September 2, 2011, Oulu, Finland, 685-692
STARTPAGE=685;ENDPAGE=692;TITLE=Proceedings of the 14th Euromicro Conference on Digital System Design (DSD'2011), August 31-September 2, 2011, Oulu, Finland
DSD

This paper addresses the crucial problem of static power reduction for circuits implemented in nano-CMOS technologies. Its solution requires accurate and rapid power estimation, but the known power simulators are not accurate and quick at the same ti

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::c365dcf974153456e14f208370096660
https://research.tue.nl/nl/publications/024db892-23d4-494b-8e95-c564afd7b083

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Hierarchical Analysis of Short Defects between Metal Lines in CMOS IC.

Autor: Pleskacz, W.A., Jenihhin, M., Raik, J., Rakowski, M., Ubar, R., Kuzmicz, W.

Publikováno v: 2008 11th EUROMICRO Conference on Digital System Design Architectures, Methods & Tools; 2008, p729-734, 6p