Zobrazeno 1 - 10
of 29
pro vyhledávání: '"Kurosaki, Daisuke"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Energy October 2015 90 Part 1:89-94
Publikováno v:
In International Journal of Human - Computer Studies 2004 60(4):489-526
Autor:
Akihisa Shimomura, Satoshi Higano, Shunpei Yamazaki, Kazuhiro Tsutsui, Masashi Tsubuku, Kurosaki Daisuke, Takako Takasu, Noritaka Ishihara
Publikováno v:
SID Symposium Digest of Technical Papers. 47:816-819
We used new In-Ga-Zn oxide composition (In:Ga:Zn = from 4:2:3 to 4:2:4.1) to fabricate bottom-gate, top-contact field-effect transistors with high mobility and stability. Here we discuss these improvements in mobility and stability based on experimen
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Okazaki, Kenichi, Shima, Yukinori, Kurosaki, Daisuke, Nakazawa, Yasutaka, Koezuka, Junichi, Baba, Haruyuki, Yamazaki, Shunpei
Publikováno v:
SID Symposium Digest of Technical Papers; May2017, Vol. 48 Issue 1, p1112-1115, 4p
Autor:
Sato, Manabu, Kurosaki, Daisuke, Nakazawa, Yasutaka, Okazaki, Kenichi, Koezuka, Junichi, Watanabe, Kazunori, Kusunoki, Koji, Ishitani, Tetsuji, Takahashi, Kei, Yamazaki, Shunpei
Publikováno v:
SID Symposium Digest of Technical Papers; May2017, Vol. 48 Issue 1, p596-599, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Okazaki, Kenichi, Kanemura, Hiroshi, Kurosaki, Daisuke, Shima, Yukinori, Koezuka, Junichi, Kawashima, Susumu, Shiokawa, Masataka, Miyake, Hiroyuki, Yamazaki, Shunpei
Publikováno v:
SID Symposium Digest of Technical Papers; Jun2015, Vol. 46 Issue 1, p939-942, 4p