Zobrazeno 1 - 10
of 44
pro vyhledávání: '"Kuo, D.S."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Materials Science in Semiconductor Processing February 2012 15(1):52-55
Publikováno v:
2003 International Symposium on VLSI Technology, Systems & Applications. Proceedings of Technical Papers. (IEEE Cat. No.03TH8672); 2003, p36-39, 4p
Publikováno v:
1999 International Symposium on VLSI Technology, Systems & Applications Proceedings of Technical Papers (Cat No99TH8453); 1999, p258-261, 4p
Autor:
Liew, B.K., Wang, C.C., Diaz, C.H., Wu, S.Y., Sun, Y.C., Lin, Y.F., Kuo, D.S., Lin, H.T., Yen, A.
Publikováno v:
1999 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes & Devices SISPAD'99 (IEEE Cat No99TH8387); 1999, p3-6, 4p
Autor:
Lee, J.H., Peng, K.R., Shih, J.R., Chen, S.H., Yeh, J.K., Su, H.D., Ho, M.C., Kuo, D.S., Liew, B.K., Sun, J.Y.C.
Publikováno v:
1999 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings 37th Annual (Cat No99CH36296); 1999, p24-29, 6p
Autor:
Yeh, J.K., Su, H.D., Lin, Y.F., Shieh, C.D., Kuo, D.S., Liang, M.S., Tao, G.Q., List, F.J., Shi, L., Colclaser, R., Tandan, N., Chen, K., Chen, M., Gorkum, A.v.
Publikováno v:
27th European Solid-State Device Research Conference; 1997, p260-263, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.