Výsledky vyhledávání - "Kudělka, Josef"

Kniha

Zobrazení magnetického záznamu v IT pomocí mikroskopie magnetických sil = Imaging of magnetic record in IT by magnetic force microscopy / Josef Kudělka, Vojtěch Křesálek, Tomáš Martínek, Milan Navrátil.

Autor: Kudělka, Josef

Kniha

Zobrazení polovodičových struktur metodou mikrovlnné skenovací mikroskopie = Imaging of semiconductive structures by scanning microwave microscopy / Milan Navrátil ... [et al.].

Kniha

Scanning System for Ballistic Analysis.

Autor: Martínek, Tomáš, Kudělka, Josef, Navrátil, Milan, Křesálek, Vojtěch

Publikováno v: Automation Control Theory Perspectives in Intelligent Systems; 2016, p175-181, 7p

Zobrazit plný text záznamu

Conference

DESIGN OF SCANNING SYSTEM FOR MECHANOSCOPIC ANALYSIS.

Autor: Navrátil, Milan¹, Křesálek, Vojtěch¹, Kudělka, Josef¹, Martínek, Tomá¹

Publikováno v: Annals of DAAAM & Proceedings. 2015, Vol. 26 Issue 1, p256-264. 9p.

Zobrazit plný text záznamu

Characterization of ultra-thin tungsten layers

Autor: Křesálek, Vojtěch, Fořt, Tomáš, Milan Navrátil, Kudělka, Josef, Martínek, Tomáš

Publikováno v: Tomas Bata University
Scopus-Elsevier
International Journal of Applied Engineering Research

Atomic force microscopy and surface resistivity measurement were used for characterization of ultra-thin tungsten layers deposited on purified silicon with 200 nm thermic silicon dioxide substrate. Radio-frequency magnetron sputtering was used for tu

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::00c6d7c391bb154c43979ae1cc2fc5b8
https://www.ripublication.com/Volume/ijaerv11n11.htm

Zobrazit plný text záznamu