Zobrazeno 1 - 10
of 45
pro vyhledávání: '"Kuck, B."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Singh, R., Radu, I., Reiche, M., Himcinschi, C., Kuck, B., Tillack, B., Gösele, U., Christiansen, S.H.
Publikováno v:
In Applied Surface Science 30 January 2007 253(7):3595-3599
Autor:
Winkler, W, Borngräber, J, Heinemann, B, Rücker, H, Barth, R, Bauer, J, Bolze, D, Drews, J, Ehwald, K.-E, Grabolla, T, Haak, U, Höppner, W, Knoll, D, Krüger, D, Kuck, B, Kurps, R, Marschmeyer, M, Richter, H, Schley, P, Schmidt, D, Scholz, R, Tillack, B, Wolansky, D, Wulf, H.-E, Yamamoto, Y, Zaumseil, P
Publikováno v:
In Applied Surface Science 2004 224(1):297-305
Autor:
Geisler, S., Bauer, J., Haak, U., Stolarek, D., Schulz, K., Wolf, H., Meier, W., Trojahn, M., Matthus, E., Beyer, H., Old, G., Marschmeyer, St., Kuck, B.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2008, Issue 1, p679203-679203-9, 9p
Autor:
Fox, A., Heinemann, B., Barth, R., Bolze, D., Drews, J., Haak, U., Knoll, D., Kuck, B., Kurps, R., Marschmeyer, S., Richter, H.H., Rucker, H., Schley, P., Schmidt, D., Tillack, B., Weidner, G., Wipf, C., Wolansky, D., Yamamoto, Y.
Publikováno v:
2008 IEEE International Electron Devices Meeting; 2008, p1-4, 4p
Autor:
Riicker, H., Heinemann, B., Barth, R., Bauer, J., Blum, D.B.K., Bolze, D., Drews, J., Fischer, G.G., Fox, A., Fursenko, O., Grabolla, T., Haak, U., Hoppner, W., Knoll, D., Kopke, K., Kuck, B., Mai, A., Marschmeyer, S., Morgenstern, T., Richter, H.H.
Publikováno v:
2007 IEEE International Electron Devices Meeting; 2007, p651-654, 4p
Autor:
Knoll, D., Heinemann, B., Ehwald, K.E., Fox, A., Rucker, H., Barth, R., Bolze, D., Grabolla, T., Haak, U., Drews, J., Kuck, B., Marschmeyer, S., Richter, H.H., Chaimanee, M., Fursenko, O., Schley, P., Tillack, B., Kopke, K., Yamamoto, Y., Wulf, H.E.
Publikováno v:
2006 International Electron Devices Meeting; 2006, p1-4, 4p
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2005, Issue 1, p263-272, 10p
Autor:
Heinemann, B., Barth, R., Bolze, D., Drews, J., Formanek, P., Grabolla, T., Haak, U., Hoppner, W., Kopke, D.K., Kuck, B., Kurps, R., Marschmeyer, S., Richter, H.H., Rucker, H., Schley, P., Schmidt, D., Winkler, W., Wolansky, D., Wulf, H.E., Yamamoto, Y.
Publikováno v:
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004; 2004, p251-254, 4p
Autor:
Knoll, D., Heinemann, B., Barth, R., Blum, K., Borngraber, J., Drews, J., Ehwald, K.-E., Fischer, G., Fox, A., Grabolla, T., Haak, U., Hoppner, W., Korndorfer, F., Kuck, B., Marschmeyer, S., Richter, H., Rucker, H., Schley, P., Schmidt, D., Scholz, R.
Publikováno v:
Proceedings of the 2004 Meeting Bipolar/BiCMOS Circuits & Technology, 2004; 2004, p241-244, 4p