Zobrazeno 1 - 10
of 30
pro vyhledávání: '"Kuchii, T."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Second IEEE International Workshop on Electronic Design, Test & Applications; 2004, p269-274, 6p
Publikováno v:
Test Symposium, 2003. ATS 2003. 12th Asian; 2003, p6-11, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Proceedings of the Fifth Asian Test Symposium (ATS'96); 1996, p171-176, 6p
Publikováno v:
Proceedings Sixth Asian Test Symposium (ATS'97); 1997, p372-377, 6p
Publikováno v:
Proceedings 1998 IEEE International Workshop on IDDQ Testing (Cat No98EX232); 1998, p14-18, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.