Zobrazeno 1 - 10
of 118
pro vyhledávání: '"Kub, Fritz J."'
Autor:
Tadjer, Marko J., Wheeler, Virginia D., Downey, Brian P., Robinson, Zachary R., Meyer, David J., Eddy, Jr., Charles R., Kub, Fritz J.
Amorphous vanadium dioxide (VO$_{2}$) films deposited by atomic layer deposition (ALD) were crystallized with an ex situ anneal at 660-670 ${\deg}$C for 1-2 hours under a low oxygen pressure (10$^{-4}$ to 10$^{-5}$ Torr). Under these conditions the c
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1602.06340
Publikováno v:
Proc. of SPIE 8708, 87080T-1 (2013)
The deposition of nano-crystalline ZnS/diamond composite protective coatings on silicon, sapphire, and ZnS substrates, as a preliminary step to coating infrared transparent ZnS substrates from powder mixtures by the aerosol deposition method is prese
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1307.4319
Autor:
Caldwell, Joshua D., Anderson, Travis J., Culbertson, James C., Jernigan, Glenn G., Hobart, Karl D., Kub, Fritz J., Tadjer, Marko J., Tedesco, Joseph L., Hite, Jennifer K., Mastro, Michael A., Myers-Ward, Rachael L., Eddy Jr., Charles R., Campbell, Paul M., Gaskill, D. Kurt
Publikováno v:
ACS Nano 4(2), 1108-1114 (2010)
In order to make graphene technologically viable, the transfer of graphene films to substrates appropriate for specific applications is required. We demonstrate the dry transfer of epitaxial graphene (EG) from the C-face of 4H-SiC onto SiO2, GaN and
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/0910.2624
Autor:
Tadjer, Marko J., Wheeler, Virginia D., Downey, Brian P., Robinson, Zachary R., Meyer, David J., Eddy, Charles R., Jr., Kub, Fritz J.
Publikováno v:
In Solid State Electronics October 2017 136:30-35
Autor:
Wollmershauser, James A., Feigelson, Boris N., Gorzkowski, Edward P., Ellis, Chase T., Goswami, Ramasis, Qadri, Syed B., Tischler, Joseph G., Kub, Fritz J., Everett, Richard K.
Publikováno v:
In Acta Materialia May 2014 69:9-16
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Tadjer, Marko J., Anderson, Travis J., Ancona, Mario G., Raad, Peter E., Komarov, Pavel, Bai, Tingyu, Gallagher, James C., Koehler, Andrew D., Goorsky, Mark S., Francis, Daniel A., Hobart, Karl D., Kub, Fritz J.
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters; Jun2019, Vol. 40 Issue 6, p881-884, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.