Zobrazeno 1 - 10
of 75
pro vyhledávání: '"Kruseman, B."'
Publikováno v:
ETS
Proceedings of the European Test Workshop
Proc.European Test Workshop
Proceedings of the European Test Workshop
Proc.European Test Workshop
On behalf of the Steering, Program and Organizing Committees, we would like to welcome you to the European Test Symposium 2016 (ETS'16); the largest event in Europe entirely devoted to presenting and discussing scientific trends, emerging results, ho
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::098ed98892aad96a0ed780914b2cd483
https://doi.org/10.1109/ets.2016.7519275
https://doi.org/10.1109/ets.2016.7519275
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2011 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE); 2011, p1-6, 6p
Publikováno v:
2011 IEEE International Symposium on Defect & Fault Tolerance in VLSI & Nanotechnology Systems (DFT); 2011, p139-145, 7p
Publikováno v:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems. May2012, Vol. 31 Issue 5, p809-813. 5p.
Autor:
Rodri?guez-Monta?e?s, R., Arumi?, D., Figueras, J., Einchenberger, S., Hora, C., Kruseman, B.
Publikováno v:
2010 15th IEEE European Test Symposium (ETS); 2010, p233-238, 6p
Publikováno v:
2010 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE); 2010, p1373-1376, 4p
Publikováno v:
VLSID '10. 23rd International Conference on VLSI Design, 2010; 2010, p276-281, 6p
Publikováno v:
26th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2008); 2008, p119-124, 6p
Publikováno v:
2008 IEEE International Test Conference; 2008, p1-10, 10p