Zobrazeno 1 - 10
of 74
pro vyhledávání: '"Krummenacher, Francois"'
In Part I of this paper, we have shown how to calculate the thermal noise voltage variances in switched-capacitor (SC) circuits using operational transconductance amplifiers (OTAs) with capacitive feedback by using the extended Bode theorem. The meth
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1908.08109
This paper presents a simple method for estimating the thermal noise voltage variance in passive and active switched-capacitor (SC) circuits using operational transconductance amplifiers (OTA). The proposed method is based on the Bode theorem for pas
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1908.08099
Autor:
Gaugaz, François, Krummenacher, François, Gaugaz, Fabienne, Kayal, Maher, Joly, Sylvain, Lepple-Wienhues, Albrecht, Orhan, Jean-Baptiste
Publikováno v:
In Microelectronics Journal March 2019 85:129-134
Autor:
Venturini, Giuseppe, Anghinolfi, Francis, Dehning, Bernd, Krummenacher, François, Kayal, Maher
Publikováno v:
In Microelectronics Journal December 2013 44(12):1302-1308
Autor:
Diagne, Birahim, Prégaldiny, Fabien, Lallement, Christophe, Sallese, Jean-Michel, Krummenacher, François
Publikováno v:
In Solid State Electronics 2008 52(1):99-106
Autor:
Chauhan, Yogesh Singh, Gillon, Renaud, Bakeroot, Benoit, Krummenacher, Francois, Declercq, Michel, Ionescu, Adrian Mihai
Publikováno v:
In Solid State Electronics 2007 51(11):1581-1588
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Chauhan, Yogesh Singh, Anghel, Costin, Krummenacher, Francois, Maier, Christian, Gillon, Renaud, Bakeroot, Benoit, Desoete, Bart, Frere, Steven, Desormeaux, Andre Baguenier, Sharma, Abhinav, Declercq, Michel, Ionescu, Adrian Mihai
Publikováno v:
In Solid State Electronics November-December 2006 50(11-12):1801-1813
Autor:
Sallese, Jean-Michel, Krummenacher, François, Prégaldiny, Fabien, Lallement, Christophe, Roy, A., Enz, C.
Publikováno v:
In Solid State Electronics 2005 49(3):485-489
Publikováno v:
In Solid State Electronics 2004 48(9):1539-1548