Zobrazeno 1 - 2 of 2 pro vyhledávání: '"Kroezen, H."'
1
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
2
Conference
Electrical testing and simulation in the Microelectronic Engineering Department at RIT.
Autor: Pearson, P., Hildreth, S., Smeenge, J.M., Kroezen, H.
Publikováno v: Proceedings of the Eleventh Biennial University/Government/ Industry Microelectronics Symposium; 1995, p241-244, 4p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje