Zobrazeno 1 - 10
of 340
pro vyhledávání: '"Krisch, K"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Krisch, K. S., Sodini, C. G.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 8/15/1994, Vol. 76 Issue 4, p2284, 9p, 1 Chart, 12 Graphs
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 8/15/1991, Vol. 70 Issue 4, p2185, 10p
Autor:
Dawson, J. L., Krisch, K., Evans-Lutterodt, K. W., Tang, Mau-Tsu, Manchanda, L., Green, M. L., Brasen, D., Higashi, G. S., Boone, T.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 5/1/1995, Vol. 77 Issue 9, p4746, 4p, 2 Charts, 4 Graphs
Autor:
Bertram, J.1, Krisch, K.1
Publikováno v:
European Journal of Biochemistry. 1969, Vol. 11 Issue 1, p122-126. 5p.
Publikováno v:
Europe PubMed Central
Since the new law for hospitalization has come into effect (1991) in Austria more than before children from parents who have psychoses or other serious mental disorders have to be taken into in-patient wards in psychiatric institutions for children-o
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=pmid_dedup__::25c2b14b53f22c68c9b0ce0e69fc5014
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/8066030
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/8066030
Autor:
Briaire, J., Krisch, K. S.
Publikováno v:
Signal Integrity Effects in Custom IC & ASIC Designs; 2001, p351-359, 9p
Autor:
Weir, B. E., Silverman, P. J., Alers, G. B., Monroe, D., Alam, M. A., Sorsch, T. W., Green, M. L., Timp, G. L., Ma, Y., Frei, M., Liu, C. T., Bude, J. D., Krisch, K. S.
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; Dec1999, Vol. 561 Issue 1, p301-306, 6p
Autor:
Manchanda, L., Weber, G.R., Mansfields, W., Boulin, D.M., Krisch, K., Kim, Y.O., Storz, R., Moriya, N., Luftman, H.S., Feldman, L.C., Green, M.L., Kistler, R.C., Lee, J.T.C., Klemens, F.
Publikováno v:
Proceedings of IEEE International Electron Devices Meeting; 1993, p459-462, 4p