Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"Kramer, Geerten"'
Autor:
Bijnagte, Tom, Kramer, Geerten, Kramer, Lukas, Dekker, Bert, Herfst, Rodolf, Sadeghian, Hamed
In atomic force microscopy (AFM), the exchange and alignment of the AFM cantilever with respect to the optical beam and position-sensitive detector (PSD) are often performed manually. This process is tedious and time-consuming and sometimes damages t
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1610.03471
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2009, Issue 1, p742606-742606-11, 11p
Autor:
Sanchez, Martha I., Ukraintsev, Vladimir A., Kuiper, Stefan, Fritz, Erik, Crowcombe, Will, Liebig, Thomas, Kramer, Geerten, Witvoet, Gert, Duivenvoorde, Tom, Overtoom, Ton, Rijnbeek, Ramon, van Zwet, Erwin, van Dijsseldonk, Anton, den Boef, Arie, Beems, Marcel, Levasier, Leon
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; March 2016, Vol. 9778 Issue: 1 p97781B-97781B-10, 9680330p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.