Zobrazeno 1 - 10
of 3 220
pro vyhledávání: '"Krakowski M"'
Autor:
Krakowski M; Clinical Research Division, The Nathan S. Kline Institute for Psychiatric Research, Orangeburg, NY, USA; New York University School of Medicine, Department of Psychiatry, New York, NY, USA. Electronic address: krakow@nki.rfmh.org., Hoptman MJ; Clinical Research Division, The Nathan S. Kline Institute for Psychiatric Research, Orangeburg, NY, USA; New York University School of Medicine, Department of Psychiatry, New York, NY, USA., Czobor P; Department of Psychiatry and Psychotherapy, Semmelweis University, Budapest, Hungary.
Publikováno v:
Journal of psychiatric research [J Psychiatr Res] 2024 Dec; Vol. 180, pp. 411-417. Date of Electronic Publication: 2024 Nov 06.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
KRAKOWSKI, M.1 marcin.krakowsk.dokt@pw.edu.pl, NOGAL, Ł.1
Publikováno v:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences: Technical Sciences. 2020, Vol. 68 Issue 5, p1099-1105. 7p.
Autor:
Belyanin, Alexey A., Smowton, Peter M., Krakowski, M., Meghnagi, M., Afuso-Roxo, P., Resneau, P., Izquierdo, E., Theveneau, C., Vinet, E., Robert, Y., Legoec, J. P., Garcia, M., Parillaud, O., Gerard, B.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; March 2023, Vol. 12440 Issue: 1 p124400J-124400J-10, 12315611p
Deep-Learning-basierte Einstellung von Standardprojektionen in der zerebralen Angiographie. (German)
Publikováno v:
RöFo: Fortschritte auf dem Gebiet der Röntgenstrahlen und der Bildgebenden Verfahren; 2024 Supplement 1, Vol. 196, pS43-S44, 2p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Boutillier, M., Gauthier-Lafaye, O., Bonnefont, S., Lozes-Dupuy, F., Vermersch, F.-J., Krakowski, M., Gilard, O.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2006 46(9):1715-1719
Autor:
Schmeissner, R., Favard, P., Dufreche, P., Douahi, A., Folco, Y., Guibaud, G., von Bandel, N., Parillaud, O., Garcia, M., Krakowski, M., Baili, G., Romer, A., Chastellain, F., Coppoolse, W. W., Guérandel, S., Perez, P., Mestre, N., Baldy, M.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 12/1/2017, Vol. 10562, p1-5, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.