Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Kraft, Marlin E."'
Autor:
Hu, Jiuning, Rigosi, Albert F., Kruskopf, Mattias, Yang, Yanfei, Wu, Bi-Yi, Tian, Jifa, Panna, Alireza R., Lee, Hsin-Yen, Payagala, Shamith U., Jones, George R., Kraft, Marlin E., Jarrett, Dean G., Watanabe, Kenji, Taniguchi, Takashi, Elmquist, Randolph E., Newell, David B.
We report the fabrication and measurement of top gated epitaxial graphene p-n junctions where exfoliated hexagonal boron nitride (h-BN) is used as the gate dielectric. The four-terminal longitudinal resistance across a single junction is well quantiz
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2201.03621
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement; Jun2020, Vol. 69 Issue 6, p3729-3738, 10p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
29th Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2014); 2014, p294-295, 2p
Autor:
Yu KM; Korea Research Institute of Standards and Science, Yusong, Daejon, 305-600, Korea., Jarrett DG; National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899, USA., Rigosi AF; National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899, USA., Payagala SU; National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899, USA., Kraft ME; National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899, USA.
Publikováno v:
IEEE transactions on instrumentation and measurement [IEEE Trans Instrum Meas] 2019; Vol. n/a.
Autor:
Rigosi AF; Physical Measurement Laboratory, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899 USA., Panna AR; Physical Measurement Laboratory, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899 USA., Payagala SU; Physical Measurement Laboratory, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899 USA., Kruskopf M; Joint Quantum Institute, University of Maryland, College Park, MD 20742 USA., Kraft ME; Physical Measurement Laboratory, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899 USA., Jones GR; Physical Measurement Laboratory, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899 USA., Wu BY; Graduate Institute of Applied Physics, National Taiwan University, Taipei 10617, Taiwan., Lee HY; Theiss Research, La Jolla, CA 92037 USA., Yang Y; Joint Quantum Institute, University of Maryland, College Park, MD 20742 USA., Hu J; Joint Quantum Institute, University of Maryland, College Park, MD 20742 USA., Jarrett DG; Physical Measurement Laboratory, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899 USA., Newell DB; Physical Measurement Laboratory, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899 USA., Elmquist RE; Physical Measurement Laboratory, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899 USA.
Publikováno v:
IEEE transactions on instrumentation and measurement [IEEE Trans Instrum Meas] 2018; Vol. 68.