Zobrazeno 1 - 10
of 744
pro vyhledávání: '"Kovalchuk M"'
Autor:
Martyshov, M. N., Emelyanov, A. V., Demin, V. A., Nikiruy, K. E., Minnekhanov, A. A., Nikolaev, S. N., Taldenkov, A. N., Ovcharov, A. V., Presnyakov, M. Yu., Sitnikov, A. V., Vasiliev, A. L., Forsh, P. A., Granovskiy, A. B., Kashkarov, P. K., Kovalchuk, M. V., Rylkov, V. V.
Publikováno v:
Phys. Rev. Applied 14, 034016 (2020)
Resistive and capacitive switching in capacitor metal/nanocomposite/metal (M/NC/M) structures based on (CoFeB)x(LiNbO3)100-x NC fabricated by ion-beam sputtering with metal content x $\approx$ 8-20 at. % is studied. The peculiarity of the structure s
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1912.03726
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Novikova, N. N.1 (AUTHOR) nn-novikova07@yandex.ru, Kovalchuk, M. V.1 (AUTHOR), Rogachev, A. V.1 (AUTHOR), Malakhova, Yu. N.1,2 (AUTHOR), Kotova, J. O.3 (AUTHOR), Gelperina, S. E.3 (AUTHOR), Yakunin, S. N.1 (AUTHOR)
Publikováno v:
Crystallography Reports. Dec2023, Vol. 68 Issue 6, p986-996. 11p.
Autor:
Eliovich, Ya., Akkuratov, V., Targonskii, A., Blagov, A., Pisarevsky, Yu., Petrov, I., Kovalchuk, M.
Publikováno v:
In Sensors and Actuators: A. Physical 16 August 2022 343
Autor:
Kordonskaya, Yu. V., Timofeev, V. I., Marchenkova, M. A., Pisarevsky, Yu. V., Dyakova, Yu. A., Kovalchuk, M. V.
Publikováno v:
Crystallography Reports; Oct2024, Vol. 69 Issue 5, p750-755, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Yakunin, S. N., Makhotkin, I. A., Chuev, M. A., Pashaev, E. M., Zoethout, E., Louis, E., van de Kruijs, R. W. E., Seregin, S. Yu., Subbotin, I. A., Novikov, D. V., Bijkerk, F., Kovalchuk, M. V.
We present a model independent approach for the reconstruction of the atomic concentration profile in a nanoscale layered structure, as measured using the X-ray fluorescence yield modulated by an X-ray standing wave (XSW). The approach is based on th
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1309.3133
Autor:
Marchenkov, N., Kulikov, A., Targonsky, A., Eliovich, Ya., Pisarevsky, Yu., Seregin, A., Blagov, A., Kovalchuk, M.
Publikováno v:
In Sensors & Actuators: A. Physical 1 July 2019 293:48-55
Autor:
Kulikov, A., Blagov, A., Marchenkov, N., Targonsky, A., Eliovich, Ya., Pisarevsky, Yu., Kovalchuk, M.
Publikováno v:
In Sensors & Actuators: A. Physical 1 June 2019 291:68-74