Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"Kouikoglou, V. S."'
Autor:
Ioannidis, S.1 (AUTHOR), Kouikoglou, V. S.2 (AUTHOR) kouik@dpem.tuc.gr
Publikováno v:
International Journal of Production Research. Nov2008, Vol. 46 Issue 22, p6513-6532. 20p. 2 Charts, 6 Graphs.
Publikováno v:
International Journal of Production Research. Mar1997, Vol. 35 Issue 3, p753-766. 14p.
Autor:
Kouikoglou, V. S.1, Phillis, Y. A.1
Publikováno v:
International Journal of Production Research. Feb1997, Vol. 35 Issue 2, p381-397. 17p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Linear Algebra and Its Applications; 1996, Vol. 235 Issue: 1 p247-260, 14p
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::689fe0e7d096ff6e993c305c566a0a6a
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-84870777174&partnerID=MN8TOARS
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-84870777174&partnerID=MN8TOARS
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::5442c1d4d776b7de8dc5959cffa2371c
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-78651465638&partnerID=MN8TOARS
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-78651465638&partnerID=MN8TOARS
Autor:
Kouikoglou, V. S.
Publikováno v:
Microelectronics Reliability; 1993, Vol. 33 Issue: 3 p445-445, 1p
Single sampling plans for attributes satisfying an arbitrary set of constraints-a graphical approach
Autor:
Kouikoglou, V. S.
Publikováno v:
Microelectronics Reliability; 1994, Vol. 34 Issue: 6 p1071-1071, 1p