Výsledky vyhledávání - "Kosbi, Klaus"

Conference

Determination of the bonding qualities of layered gold/silicon systems using higher SAW modes.

Autor: Blum, Thomas, Kosbi, Klaus, Scheer, Ulla, Boseck, Siegfried

Publikováno v: Proceedings of SPIE; Nov1998 Part 2, Issue 1, p255-258, 4p

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Evaluation of imperfect gold/glass interfaces using scanning acoustic microscopy.

Autor: Kosbi, Klaus, Blum, Thomas, Scheer, Ulla, Boseck, Siegfried

Publikováno v: Proceedings of SPIE; Nov1998 Part 2, Issue 1, p314-319, 6p

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Implementation of the wavelet transform for V(z) analysis in acoustic microscopy.

Autor: Scheer, Ulla, Blum, Thomas, Kosbi, Klaus, Boseck, Siegfried

Publikováno v: Proceedings of SPIE; Nov1998 Part 2, Issue 1, p320-325, 6p

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Determination of the elastic properties of carbon thin films using scanning acoustic microscopy.

Autor: Pageler, A., Kosbi, Klaus, Brauneck, Ulf G., Busmann, Hans Gerd G., Boseck, Siegfried

Publikováno v: Proceedings of SPIE; Nov1998 Part 2, Issue 1, p334-340, 7p

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Etched bonded silicon wafers as test objects for the resolution power of subsurface voids.

Autor: Kosbi, Klaus, Boseck, Siegfried, Albrecht, Ingo, Schulze, Steffen F., Benecke, Wolfgang

Publikováno v: Proceedings of SPIE; Nov1995, Issue 1, p327-333, 7p

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Influence of an eccentric transducer on V(z) measurement.

Autor: Scheer, Ulla, Kosbi, Klaus, Boseck, Siegfried

Publikováno v: Proceedings of SPIE; Nov1995, Issue 1, p334-339, 6p

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.