Zobrazeno 1 - 10
of 33
pro vyhledávání: '"Kopylets, I. A."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Malykhin, S. V., Vadym Makhlai, Surovitskiy, S. V., Borisova, S. S., Herashchenko, S. S., Kondratenko, V. V., Kopylets, I. A., Baturin, A. A., Terentyev, D.
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
X-ray diffraction and SEM microscopy were used to study structural and phase changes in the surface layers of a Ti41.5Zr41.5Ni17 alloy bulk sample (target) and a thin film (deposited by magnetron sputtering of the target) under radiation-thermal acti
Autor:
Malykhin, S. V., Kondratenko, V. V., Kopylets, I. А., Surovitskiy, S. V., Shipkova, I. G., Mikhailov, I. F., Zubarev, Evgeniy N., Bogdanov, Yu. S.
Using the methods of X-ray diffraction, transmission and scanning microscopy, the features of the initial stage of the formation of the quasicrystalline phase in thin films of Ti-Zr-Ni are studied. The films were obtained by magnetron sputtering of a
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::8ce1b1281b83d35c18c0a84033dd5b70
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/79372
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/79372
Autor:
A. Vishnyakov, E., A. Kopylets, I., V. Kondratenko, V., O. Kolesnikov, A., N. Ragozin, E., N. Shatokhin, A., Pirozhkov, Alexander
Publikováno v:
Quantum Electronics. 48(3):189-196
Three broadband aperiodic Sb/B4C multilayer mirrors were synthesised for the purposes of soft X-ray optics and spectroscopy in the wavelength range beyond the L-edge of Si (λ < 124 Å), and their reflection spectra were measured. The multilayer stru
Autor:
Devizenko, A. Yu., Kopylets, I. A., Kondratenko, V. V., Pershyn, Yuriy P., Zubarev, Evgeniy N., Savitskiy, B. A., Devizenko, I. Y.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3033::886414365c131203a4247c7892218b2b
http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/57479
http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/57479