Zobrazeno 1 - 10
of 23
pro vyhledávání: '"Kopley, T.E."'
Publikováno v:
2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW); 2015, p138-142, 5p
Publikováno v:
International Electron Devices Meeting IEDM Technical Digest; 1997, p145-148, 4p
Publikováno v:
Proceedings of International Electron Devices Meeting; 1995, p37-40, 4p
Autor:
Wenjie Jiang, Huy Le, Dao, S., Kim, S.A., Stine, B., Chung, J.E., Yu-Jen Wu, Bendix, P., Prasad, S., Kapoor, A., Kopley, T.E., Dungan, T., Manna, I., Marcoux, P., Lifeng Wu, Chen, A., Zhihong Liu
Publikováno v:
1997 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings 35th Annual; 1997, p300-306, 7p
Autor:
Jiang, W., Le, H., Kim, S.A., Chung, J.E., Wu, Y.-J., Bendix, P., Jensen, J., Ardans, R., Prasad, S., Kapoor, A., Kopley, T.E., Dungan, T., Marcoux, P.
Publikováno v:
1997 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures Proceedings; 1997, p56-62, 7p
Publikováno v:
Proceedings of 1995 IEEE International Reliability Physics Symposium; 1995, p276-283, 8p
Publikováno v:
Proceedings of 1994 IEEE International Electron Devices Meeting; 1994, p299-302, 4p
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices; 1996, Vol. 43 Issue 6, p991-999, 9p
Publikováno v:
2000 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report (Cat. No.00TH8515); 2000, p155-157, 3p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.