Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

8 - Point defects in stoichiometric and nonstoichiometric metal oxides for modern microelectronics

Autor: Kolkovsky, Vladimir, Stübner, Ronald

Publikováno v: In Metal Oxide Defects 2023:217-252

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

List of contributors

Autor: Andrés, Juan, Arjona, Noé, Asokan, K., Ayoub, Irfan, Bera, Susanta, Chattopadhyay, S., Chaurasiya, Rajneesh, Chen, Fan, Ciola Amoresi, Rafael Aparecido, Coleto Junior, Ubirajara, Dalpian, Gustavo Martini, Das, P.K., Du, Wenjing, Dutta, Somrita, El Filali, Brahim, Esposito, Vincenzo, Frechero, M.A., Gadani, Keval, Gnanamani, Muthu Kumaran, Guerra-Balcázar, Minerva, Hamed Mashhadzadeh, Amin, Jana, D., Jiang, Yanyan, Joseph, D. Paul, Joshi, A.D., Kabir, Ahsanul, Kamble, Vinayak, Khan, Hasmat, Kolkovsky, Vladimir, Kovendhan, M., Kumar, Vijay, Kumar Singh, Rajan, Lal Meena, Mohan, Li, Hui, Lim, Way Foong, Lin, Shawn D., Liu, Wei, Liu, Jiurong, Longo, Elson, Lu, Chung-Hsin, Ma, Yingjie, Mallick, P., Michejevs Padilha, Antonio Claudio, Molina, M.C., Mondal, A., Naskar, Atanu, Pal, S., Perazolli, Leinig Antonio, Polupan, Georgiy, Rajabathar, Jothi Ramalingam, Ramarajan, R., Rocha, Alexandre Reily, Saeb, Mohammad Reza, Salmankhani, Azam, Sarkar, A., Sehgal, Rishabh, Sehgal, Rakesh, Shah, N.A., Sharma, Vishal, Shrimali, V.G., Simões, Alexandre Zirpoli, Solanki, P.S., Som, Sudipta, Spitas, Christos, Stübner, Ronald, Swaminathan, Jayashree, Swart, Hendrik C., Terny, S., Thangaraju, K., Tinti, Victor Buratto, Álvarez-Contreras, Lorena, Torchynska, Tetyana V., Velázquez-Hernández, Isaac, Wang, Zhou, Wang, Fenglong, Wu, Lili, Zanetti de Florio, Daniel, Zarghami Dehghani, Maryam, Zhang, Xingfan, Zhang, Xue, Zheng, Peiru

Publikováno v: In Metal Oxide Defects 2023:xi-xvi