Zobrazeno 1 - 10
of 39
pro vyhledávání: '"Koli, Dinesh"'
Autor:
Pamarty, Abhijit Pranav, Neuweiler, Robert, Do, Le Quyen, Johnson, Keaton, Sanchez, James J., Koli, Dinesh
Reliable predictions of the etch rate profile are desirable in semiconductor manufacturing to prevent etch rate target misses and yield rate excursions. Conventional methods for analyzing etch rate require extensive metrology, which adds considerable
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2409.12925
Fabrication of magnesium matrix composites using powder metallurgy process and testing of properties
Publikováno v:
In Materials Today: Proceedings 2018 5(2) Part 1:6009-6017
Publikováno v:
In Materials Today: Proceedings 2017 4(2) Part A:3745-3753
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 25 March 2015 136:36-41
Publikováno v:
In Materials Today: Proceedings 2015 2(4-5):3032-3041
Publikováno v:
In Materials Today: Proceedings 2015 2(4-5):3017-3026
Autor:
Sahu, Krishnkant, Rana, R.S., Purohit, Rajesh, Koli, Dinesh K., Rajpurohit, Saurabh Singh, Singh, Mayuresh
Publikováno v:
In Materials Today: Proceedings 2015 2(4-5):1892-1900
Publikováno v:
In Procedia Materials Science 2014 6:567-589
Publikováno v:
In Procedia Materials Science 2014 6:490-502
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.