Zobrazeno 1 - 10
of 681
pro vyhledávání: '"Koksal, O."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Zhang C; School of Optical and Electronic Information & Wuhan National Laboratory for Optoelectronics, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, Hubei, 430074, China. cheng.zhang@hust.edu.cn., Chen L; National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD, 20899, USA.; University of Maryland, College Park, MD, 20742, USA., Lin Z; School of Optical and Electronic Information & Wuhan National Laboratory for Optoelectronics, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, Hubei, 430074, China., Song J; National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD, 20899, USA., Wang D; School of Optical and Electronic Information & Wuhan National Laboratory for Optoelectronics, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, Hubei, 430074, China., Li M; School of Optical and Electronic Information & Wuhan National Laboratory for Optoelectronics, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, Hubei, 430074, China., Koksal O; National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD, 20899, USA., Wang Z; National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD, 20899, USA.; University of Maryland, College Park, MD, 20742, USA., Spektor G; National Institute of Standards and Technology, Boulder, CO, 80305, USA., Carlson D; National Institute of Standards and Technology, Boulder, CO, 80305, USA., Lezec HJ; National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD, 20899, USA., Zhu W; National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD, 20899, USA.; University of Maryland, College Park, MD, 20742, USA., Papp S; National Institute of Standards and Technology, Boulder, CO, 80305, USA., Agrawal A; National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD, 20899, USA. amit.agrawal@nist.gov.
Publikováno v:
Light, science & applications [Light Sci Appl] 2024 Jan 22; Vol. 13 (1), pp. 23. Date of Electronic Publication: 2024 Jan 22.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Journal of Hand Surgery 2005 30(4):428-431
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.