Zobrazeno 1 - 1 of 1 pro vyhledávání: '"Kobatake, Tomoyuki"'
1
Akademický článek
A low energy FIB processing, repair, and test system
Autor: Miura, Katsuyoshi, Kobatake, Tomoyuki, Nakamae, Koji, Fujioka, Hiromu
Publikováno v: In Microelectronics Reliability 2003 43(9):1627-1631
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje