Zobrazeno 1 - 10 of 122 pro vyhledávání: '"Knickerbocker J"'
1
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
2
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
3
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
4
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
5
Conference
Planarity-tolerant fine-pitch reworkable interconnections with sharp protrusions and microbumps.
Autor: Liu, Y., Wright, S.L., Nah, J.W., Dang, B., Luo, Y., Knickerbocker, J.
Publikováno v: 2015 IEEE 65th Electronic Components & Technology Conference (ECTC); 2015, p1202-1207, 6p
Zobrazit plný text záznamu
6
Conference
Transferrable fine pitch probe technology.
Autor: Liu, Y., Wright, S. L., Dang, B., Andry, P., Polastre, R., Knickerbocker, J.
Publikováno v: 2014 IEEE 64th Electronic Components & Technology Conference (ECTC); 2014, p1880-1884, 5p
Zobrazit plný text záznamu
7
Conference
Advanced wafer bonding and laser debonding.
Autor: Andry, P., Budd, R., Polastre, R., Tsang, C., Dang, B., Knickerbocker, J., Glodde, M.
Publikováno v: 2014 IEEE 64th Electronic Components & Technology Conference (ECTC); 2014, p883-887, 5p
Zobrazit plný text záznamu
8
Conference
Measurement of back end of line thermal resistance for 3D chip stacks.
Autor: Colgan, E. G., Polastre, R. J., Knickerbocker, J., Wakil, J., Gambino, J., Tallman, K.
Publikováno v: 29th IEEE Semiconductor Thermal Measurement & Management Symposium; 2013, p23-28, 6p
Zobrazit plný text záznamu
9
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
10
Conference
Micro-interconnection reliability: Thermal, electrical and mechanical stress.
Autor: Wright, S. L., Tsang, C. K., Maria, J., Dang, B., Polastre, R., Andry, P., Knickerbocker, J.
Publikováno v: 2012 IEEE 62nd Electronic Components & Technology Conference; 1/ 1/2012, p1278-1286, 9p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje