Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"Knetzger, Michael"'
Publikováno v:
In Journal of Crystal Growth 15 July 2019 518:51-58
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2016 66:16-21
Autor:
Sintonen, Sakari, Rudziński, Mariusz, Suihkonen, Sami, Jussila, Henri, Knetzger, Michael, Meissner, Elke, Danilewsky, Andreas, Tuomi, Turkka O., Lipsanen, Harri
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 2014, Vol. 116 Issue 8, p083504-1-083504-9, 9p, 4 Color Photographs, 5 Black and White Photographs, 3 Diagrams, 1 Chart, 1 Graph
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; October 2015, Vol. 242 Issue: 1 p417-420, 4p
Autor:
Yoshihiro Kangawa, Suetsugu, Hiroshige, Knetzger, Michael, Meissner, Elke, Hazu, Kouji, Chichibu, Shigefusa F., Kajiwara, Takashi, Tanaka, Satoru, Iwasaki, Yosuke, Kakimoto, Koichi
Publikováno v:
ResearcherID
Structural and optical properties of AlN grown on AlN(0001) by the solid source solution growth (3SG) method were investigated. Transmission electron microscopy (TEM) analysis revealed that the geometrical relationship between the growth directions a
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::8c61124023ec9b0ec1c3cc374b96cbdc
http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=ORCID&SrcApp=OrcidOrg&DestLinkType=FullRecord&DestApp=CCC&KeyUT=CCC:000360165000027&KeyUID=CCC:000360165000027
http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=ORCID&SrcApp=OrcidOrg&DestLinkType=FullRecord&DestApp=CCC&KeyUT=CCC:000360165000027&KeyUID=CCC:000360165000027