Zobrazeno 1 - 10
of 22
pro vyhledávání: '"Knebel, D.R."'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August-October 2000 40(8-10):1353-1358
Publikováno v:
ESSCIRC 2004 - 29th European Solid-State Circuits Conference (IEEE Cat. No.03EX705); 2003, p635-638, 4p
Autor:
Deutsch, A., Kopcsay, G.V., Restle, P., Katopis, G., Becker, W.D., Smith, H., Coteus, P.W., Surovic, C.W., Rubin, B.J., Dunne, R.P., Gallo, T., Jenkins, K.A., Terman, L.M., Dennard, R.H., Sai-Halasz, G.A., Knebel, D.R.
Publikováno v:
1997 Proceedings 47th Electronic Components & Technology Conference; 1997, p704-712, 9p
Autor:
Deutsch, A., Smith, H., Katopis, G.A., Becker, W.D., Coteus, P.W., Surovic, C.W., Kopcsay, G.V., Rubin, B.J., Dunne, R.P., Gallo, T., Knebel, D.R., Krauter, B.L., Terman, L.M., Sai-Halasz, G.A., Reslte, P.J.
Publikováno v:
Electrical Performance of Electronic Packaging; 1997, p53-56, 4p
Autor:
Sanda, P.N., Knebel, D.R., Kash, J.A., Casal, H.F., Tsang, J.C., Seewann, E., Papermaster, M.
Publikováno v:
1999 IEEE International Solid-State Circuits Conference Digest of Technical Papers ISSCC First Edition (Cat No99CH36278); 1999, p372-373, 2p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.