Zobrazeno 1 - 10
of 71
pro vyhledávání: '"Klein, Benedikt P"'
X-ray photoemission and x-ray absorption spectroscopy are important techniques to characterize chemical bonding at surfaces and are often used to identify the strength and nature of adsorbate-substrate interactions. In this study, we judge the abilit
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2210.02187
First principles simulation of x-ray photoemission spectroscopy (XPS) is an important tool in the challenging interpretation and assignment of XPS data of metal-organic interfaces. We investigate the origin of the disagreement between XPS simulation
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2112.00876
X-ray photoemission (XPS) and Near Edge X-ray Absorption Fine Structure (NEXAFS) spectroscopy play an important role in investigating the structure and electronic structure of materials and surfaces. Ab-initio simulations provide crucial support for
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2010.10437
Autor:
Stoodley, Matthew A., Klein, Benedikt P., Clarke, Michael, Williams, Leon B.S., Rochford, Luke A., Ferrer, Pilar, Grinter, David C., Saywell, Alex, Duncan, David A.
Publikováno v:
In Inorganica Chimica Acta 1 November 2023 557
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Wagner, Bettina, Dehnhardt, Natalie, Schmid, Martin, Klein, Benedikt P., Ruppenthal, Lukas, Müller, Philipp, Zugermeier, Malte, Gottfried, J. Michael, Lippert, Sina, Halbich, Marc-Uwe, Rahimi-Iman, Arash, Heine, Johanna
Porphyrinic materials show a range of interesting and useful optical and electrical properties. The less well-known sub-class of porphyrin diacids has been used in this work to construct an ionic hybrid organic-inorganic material in combination with
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1611.04737
Autor:
Schmid, Martin, Ishioka, Kunie, Beyer, Andreas, Klein, Benedikt P., Krug, Claudio K., Sachs, Malte, Petek, Hrvoje, Stanton, Christopher J., Stolz, Wolfgang, Volz, Kerstin, Gottfried, J. Michael, Höfer, Ulrich
We apply hard X-ray photoelectron spectroscopy (HAXPES) to investigate the electronic structures in ~50-nm thick epitaxial GaP layers grown on Si(001) under different conditions. Depth profiles of the local binding energies for the core levels are ob
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1611.03785
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.