Zobrazeno 1 - 10
of 367
pro vyhledávání: '"Klapetek, P."'
Autor:
J. Grundmann, B. Bodermann, E. Ermilova, M. Weise, A. Hertwig, P. Klapetek, J. Rafighdoost, S. F. Pereira
Publikováno v:
Journal of Sensors and Sensor Systems, Vol 13, Pp 109-121 (2024)
In power electronics, compound semiconductors with large bandgaps, like silicon carbide (SiC), are increasingly being used as material instead of silicon. They have a lot of advantages over silicon but are also intolerant of nanoscale material defect
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/83656a545d784c488a8d255794f96aa5
Periodic structures are often found in various areas of nanoscience and nanotechnology with many of them being used for metrological purposes either to calibrate instruments, or forming the basis of measuring devices such as encoders. Evaluating the
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2208.12151
Autor:
Klenovský, Petr, Valdhans, Jakub, Krejčí, Lucie, Valtr, Miroslav, Klapetek, Petr, Fedotova, Olga
We study the effect of Coulomb correlation on the emission properties of the ground state exciton in zincblende CdSe/ZnS core-shell and in wurtzite ZnO quantum dots. We validate our theory model by comparing results of computed exciton energies of Cd
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2112.05602
Publikováno v:
Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2021, 119 (16), pp.161602
The impact of surface roughness on conductive heat transfer across nanoscale contacts is investigated by means of scanning thermal microscopy. Silicon surfaces with out-of-plane rms roughness of ~0, 0.5, 4, 7 and 11 nm are scanned both under air and
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2111.07825
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Applied Sciences, Vol 14, Iss 12, p 5352 (2024)
Modern industry should apply modern design in the construction of production facilities. This is typically the case with belt production, where parts are moved towards the worker, or when moving parts from the factory to the warehouse and shipping ar
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/e857e45c01c84676b805f51551044290
When measuring the roughness of rough surfaces, the limited sizes of scanned areas lead to its systematic underestimation. Levelling by polynomials and other filtering used in real-world processing of atomic force microscopy data increases this bias
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2001.00433
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Miroslav Valtr, Petr Klapetek, Jan Martinek, Ondřej Novotný, Zdeněk Jelínek, Václav Hortvík, David Nečas
Publikováno v:
HardwareX, Vol 15, Iss , Pp e00451- (2023)
A low-cost Digital Signal Processor (DSP) unit for advanced Scanning Probe Microscopy measurements is presented. It is based on Red Pitaya board and custom built electronic boards with additional high bit depth AD and DA converters. By providing all
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/38f653f90be043c5b1805757311d04a4
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.