Zobrazeno 1 - 10
of 160
pro vyhledávání: '"Kisiel Ryszard"'
Publikováno v:
Metrology and Measurement Systems, Vol 23, Iss 3, Pp 451-459 (2016)
This paper describes the study of thermal properties of packages of silicon carbide Schottky diodes. In the paper the packaging process of Schottky diodes, the measuring method of thermal parameters, as well as the results of measurements are present
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/7f08da099cfe4e05a94395ce869bfc4d
Publikováno v:
Microelectronics International, 2022, Vol. 39, Issue 4, pp. 188-193.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/MI-06-2022-0108
Publikováno v:
Circuit World, 2020, Vol. 47, Issue 2, pp. 146-152.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/CW-12-2019-0186
Publikováno v:
Circuit World, 2017, Vol. 43, Issue 1, pp. 38-42.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/CW-10-2016-0046
Publikováno v:
In Procedia Engineering 2015 120:1183-1186
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2007 47(2):335-341
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2005 45(12):1935-1940
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.