Výsledky vyhledávání - "Kirkland, L.V."

Knihovna AV ČR, v. v. i.

Odhlásit
Přihlášení
Jazyk
- English
- Čeština
Instituce

Pokročilé vyhledávání

Zahrnout EIZ

Zachovat současné nastavení filtrů

EXPAND:"fulltext"

Domovská stránka
Vyhledávání: "Kirkland, L.V."
Navrhnout nákup titulu

Zobrazeno 1 - 10 of 107 pro vyhledávání: '"Kirkland, L.V."'

Řazení

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

Vybrat výsledek číslo 1 1

Conference

Why did we add LabVIEW applications to our ATLAS TPSs?

Autor: Kirkland, L.V.

Publikováno v: AUTOTESTCON, 2011 IEEE; 2011, p266-271, 6p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 2 2

Conference

When should intermittent failure detection routines be part of the legacy re-host TPS?

Autor: Kirkland, L.V.

Publikováno v: AUTOTESTCON, 2011 IEEE; 2011, p54-59, 6p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 3 3

Conference

Identifying legacy re-host conversion candidates: Keeping current with technology.

Autor: Kirkland, L.V.

Publikováno v: AUTOTESTCON, 2010 IEEE; 2010, p1-5, 5p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 4 4

Conference

What can we do to stay current with technology?

Autor: Kirkland, L.V.

Publikováno v: AUTOTESTCON, 2010 IEEE; 2010, p1-5, 5p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 5 5

Conference

Unraveling the Cannot Duplicate and Retest OK problems by utilizing physics in testing and diagnoses.

Autor: Ungar, L.Y., Kirkland, L.V.

Publikováno v: 2008 IEEE AUTOTESTCON; 2008, p550-555, 6p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 6 6

Conference

The Test Executive: The strength of testing and diagnosis.

Autor: Carlson, C., Kirkland, L.V.

Publikováno v: 2008 IEEE AUTOTESTCON; 2008, p176-180, 5p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 7 7

Conference

Multiresolution nanoscale sensor-based circuit board testing.

Autor: Wright, R.G., Zgol, M., Adebimpe, D., Keenan, E., Mulligan, R., Kirkland, L.V.

Publikováno v: IEEE Autotestcon, 2005; 2005, p766-772, 7p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 8 8

Conference

Circuit board testing through multispectral signal analysis.

Autor: Wright, R.G., Kirkland, L.V.

Publikováno v: IEEE Autotestcon, 2005; 2005, p752-758, 7p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 9 9

Conference

Terahertz and laser imaging for printed circuit board failure detection.

Autor: Keenan, E., Wright, R.G., Mulligan, R., Kirkland, L.V.

Publikováno v: Proceedings AUTOTESTCON 2004; 2004, p563-569, 7p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 10 10

Conference

Organic-based devices for circuit board testing.

Autor: Wright, R.G., Zgol, M., Adebimpe, D., Kirkland, L.V.

Publikováno v: Proceedings AUTOTESTCON 2004; 2004, p558-562, 5p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
Další »
[11]

Vyhledávací nástroje:

RSS
Poslat e-mailem

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání

Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR

Zdroje

Pouze tištěné dokumenty

Zahrnout EIZ

91 Konferenční materiály
16 Akademické články

5 ate
5 diagnostics
4 automatic test equipment
4 nanotechnology
3 ic
3 integrated circuit
3 testing
2 carbon nanotube electronics
2 measurement units
2 nanoscale sensors
2 printed circuit boards
2 printed circuit testing
2 robustness
2 simulation
1 aircraft design
1 aircraft maintenance
1 application
1 artificial intelligence
1 avionics
1 canopy
1 ccd camera
1 ccd image sensors
1 chemical properties
1 connectors
1 continuous wave laser
1 data mining
1 data visualization
1 diagnoses
1 diagnosis
1 electric sensing devices
1 electrical properties
1 emulation
1 f16
1 false alarms
1 fault analysis
1 flip chip
1 gps receiver
1 grounding
1 helmet
1 image generation
1 infrared imaging
1 instruments
1 integrated circuit reliability
1 integrated circuit technology
1 integrated circuit testing
1 interfaces
1 ir laser
1 laser energy
1 machine learning
1 maintenance engineering

49 ieee
21 institute of electrical and electronics engineers inc.

43 autotestcon (proceedings)
8 ieee aerospace and electronic systems magazine
7 ieee aerospace & electronic systems
4 ieee aerospace conference proceedings
3 1998 ieee autotestcon proceedings ieee systems readiness technology conference test technology for the 21st century (cat no98ch36179)
3 autotestcon 93
3 conference record autotestcon '92: the ieee systems readiness technology conference
3 conference record autotestcon '96
3 proceedings autotestcon 2003. ieee systems readiness technology conference
3 proceedings autotestcon 2004
3 proceedings of autotestcon '94
2 1997 ieee autotestcon proceedings autotestcon '97 ieee systems readiness technology conference systems readiness supporting global needs & awareness in the 21st century
2 1999 ieee autotestcon proceedings (cat no99ch36323)
2 2000 ieee autotestcon proceedings ieee systems readiness technology conference. future sustainment for military aerospace (cat. no.00ch37057)
2 2001 ieee autotestcon proceedings ieee systems readiness technology conference. (cat. no.01ch37237)
2 2004 nsti nanotechnology conference and trade show - nsti nanotech 2004
2 2008 ieee autotestcon
2 autotestcon, 2010 ieee
2 autotestcon, 2011 ieee
2 ieee autotestcon, 2005
2 proceedings, ieee autotestcon
1 2004 ieee aerospace conference proceedings (ieee cat. no.04th8720)
1 conference record autotestcon '95 'systems readiness: test technology for the 21st century'
1 ieee conference on systems readiness technology, 'advancing mission accomplishment'
1 ieee transactions on instrumentation and measurement

58 Scopus®
49 Complementary Index

Od:

do:

Možnosti vyhledávání

Tematická mapa
Historie vyhledávání
Pokročilé vyhledávání

Objevte více

Abecední procházení

Hledáte pomoc?

Tipy pro vyhledávání

načítá se......