Zobrazeno 1 - 10 of 237 pro vyhledávání: '"Kirkland, E.J."'
1
Akademický článek
Effects of amorphous layers on ADF-STEM imaging
Autor: Mkhoyan, K.A., Maccagnano-Zacher, S.E., Kirkland, E.J., Silcox, J.
Publikováno v: In Ultramicroscopy 2008 108(8):791-803
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Effects of tilt on high-resolution ADF-STEM imaging
Autor: Maccagnano-Zacher, S.E., Mkhoyan, K.A., Kirkland, E.J., Silcox, J.
Publikováno v: In Ultramicroscopy 2008 108(8):718-726
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Separation of bulk and surface-losses in low-loss EELS measurements in STEM
Autor: Mkhoyan, K.A., Babinec, T., Maccagnano, S.E., Kirkland, E.J., Silcox, J.
Publikováno v: In Ultramicroscopy 2007 107(4):345-355
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
Atomic level scanning transmission electron microscopy characterization of GaN/AlN quantum wells.
Autor: Mkhoyan, K.A., Kirkland, E.J., Silcox, J., Alldredge, E.S.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 7/1/2004, Vol. 96 Issue 1, p738-746, 9p, 1 Diagram, 11 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
5
Akademický článek
Optimization of Imaging Reconnaissance Systems Using Super-Resolution: Efficiency Analysis in Interference Conditions.
Autor: Bistroń, Marta1 (AUTHOR) marta.bistron@wat.edu.pl, Piotrowski, Zbigniew1 (AUTHOR)
Publikováno v: Sensors (14248220). Dec2024, Vol. 24 Issue 24, p7977. 25p.
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
Depth-Dependent Imaging of Individual Dopant Atoms in Silicon.
Autor: Voyles, P.M., Muller, D.A., Kirkland, E.J.
Publikováno v: Microscopy & Microanalysis; Apr2004, Vol. 10 Issue 2, p291-300, 10p
Zobrazit plný text záznamu
7
Akademický článek
Composition and Element Distribution Mapping of γ′ and γ″ Phases of Inconel 718 by High-Resolution Scanning Transmission Electron Microscopy and X-ray Energy-Dispersive Spectrometry.
Autor: Buffat, Philippe A.1 (AUTHOR) philippe.buffat@epfl.ch, Alexandrou, Ioannis2 (AUTHOR) ioannis.alexandrou@thermofisher.com, Czyrska-Filemonowicz, Aleksandra3 (AUTHOR) czyrska@agh.edu.pl
Publikováno v: Materials (1996-1944). Feb2024, Vol. 17 Issue 3, p594. 18p.
Zobrazit plný text záznamu
8
Akademický článek
Analysis of Plasmon Loss Peaks of Oxides and Semiconductors with the Energy Loss Function.
Autor: Costantini, Jean-Marc1 (AUTHOR) jean-marc.costantini@cea.fr, Ribis, Joël1 (AUTHOR)
Publikováno v: Materials (1996-1944). Dec2023, Vol. 16 Issue 24, p7610. 15p.
Zobrazit plný text záznamu
9
Akademický článek
Making the Most of 3D Electron Diffraction: Best Practices to Handle a New Tool.
Autor: Truong, Khai-Nghi1 (AUTHOR), Ito, Sho2,3 (AUTHOR), Wojciechowski, Jakub M.1 (AUTHOR), Göb, Christian R.1 (AUTHOR), Schürmann, Christian J.1 (AUTHOR), Yamano, Akihito2 (AUTHOR), Del Campo, Mark4 (AUTHOR), Okunishi, Eiji5 (AUTHOR), Aoyama, Yoshitaka5 (AUTHOR), Mihira, Tomohiro5 (AUTHOR), Hosogi, Naoki5 (AUTHOR), Benet-Buchholz, Jordi6 (AUTHOR), Escudero-Adán, Eduardo Carmelo6 (AUTHOR), White, Fraser J.1 (AUTHOR), Ferrara, Joseph D.4 (AUTHOR), Bücker, Robert1 (AUTHOR) robert.buecker@rigaku.com
Publikováno v: Symmetry (20738994). Aug2023, Vol. 15 Issue 8, p1555. 17p.
Zobrazit plný text záznamu
10
Akademický článek
A Robust Semi-Direct 3D SLAM for Mobile Robot Based on Dense Optical Flow in Dynamic Scenes.
Autor: Hu, Bo1 (AUTHOR) hb431368@163.com, Luo, Jingwen1 (AUTHOR) by1503117@buaa.edu.cn
Publikováno v: Biomimetics (2313-7673). Aug2023, Vol. 8 Issue 4, p371. 27p.
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje