Zobrazeno 1 - 10
of 41
pro vyhledávání: '"Kina, J."'
Autor:
Grant, Kathryn E. *, McCormick, Anthony, Poindexter, LaShaunda, Simpkins, Tandra, Janda, Cassandra M., Thomas, Kina J., Campbell, Amanda, Carleton, Russell, Taylor, Jeremy
Publikováno v:
In Journal of Adolescence 2005 28(4):507-521
Autor:
Kina J. Thomas, Kathryn E. Grant, Kelly E. Amrhein, Brian N. Katz, Aubrey Harrison, Russell A. Carleton, Jeremy J. Taylor, Farahnaz K. Farahmand, Jocelyn Smith Carter, Eduardo Lugo-Hernandez
Publikováno v:
Psychological Assessment. 26:1317-1332
The current study used confirmatory factor analysis (CFA) to compare the fit of 2 factor structures for the Children's Depression Inventory (CDI) in an urban community sample of low-income youth. Results suggest that the 6-factor model developed by C
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kina J. Thomas, Kathryn E. Grant, Jeffrey H. O'Koon, C. Manuel Meza, Vanessa O. Rodriguez, Anna-Marie DiPasquale, Carrie Bergen, Brian N. Katz
Publikováno v:
Journal of Adolescent Research. 19:613-634
Rates and cooccurrence of internalizing and externalizing syndromes were examined in a sample of 1,520 low-income urban early adolescents. Results indicate higher rates of clinically elevated internalizing and externalizing symptoms in this sample re
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2011 IEEE International Conference on IC Design & Technology (ICICDT); 2011, p1-4, 4p
Autor:
Narayanan, P., Kina, J., Panchapakeshan, P., Vijayakumar, P., Kyeong-Sik Shin, Rahman, M., Leuchtenburg, M., Koren, I., Chi On Chui, Moritz, C.A.
Publikováno v:
2011 IEEE/ACM International Symposium on Nanoscale Architectures (NANOARCH); 2011, p99-106, 8p
Autor:
Narayanan, P., Leuchtenburg, M., Kina, J., Joshi, P., Panchapakeshan, P., Chui, C.O., Moritz, C.A.
Publikováno v:
2010 IEEE 25th International Symposium on Defect & Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT); 2010, p24-31, 8p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.