Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"Kim, WooKyun"'
Argon Gas Cluster-Ion Beam sources have become widely-used on x-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and secondary ion mass spectrometry (SIMS) instruments in recent years, but there is little reference data on sputter yields in the literature as yet
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1710.00367
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.